超解像手法を用いた正極性沿面放電残留電荷密度分布の解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-029

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Charge Distribution Analysis of Positive Surface Streamer by Super Resolution Technique

著者名: 熊田 亜紀子(東京大学),牧野 直徳(東京大学),千葉 政邦(東京大学),日高 邦彦(東京大学)

著者名(英語): Akiko Kumada(The University of Tokyo),Naonori Makino(The University of Tokyo),Masakuni Chiba(The University of Tokyo),Kunihiko Hidaka(The University of Tokyo)

キーワード: 沿面放電|電荷密度|超解像|非負拘束最小二乗法|表面電位計

要約(日本語): 表面電位計を用い絶縁物表面の電荷密度分布を測定する場合、測定データから電荷密度分布の逆計算が必要となる。著者らは信号処理手法としてWiener-Helstromフィルタを空間周波数場での解析に導入し、正極性沿面放電の残留電荷密度分布測定を行ってきたが(1)、システムの遮断周波数以上の高周波成分は復元できないという制約があった。先見的な知識を推定解への拘束条件として導入することにより、遮断周波数を超えて高周波情報を回復する“超解像”手法は、天体観測や、分光学の分野で広く使用されている。正極性沿面放電の残留電荷は単極性である(局所的に負に帯電していることはない)という仮定のもと、電荷密度分布の非負拘束による超解像を試みたので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 860 Kバイト