電極表面の金属微粒子がフラッシオーバ電圧に及ぼす影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-134

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Influence of Flashover Voltage by Metal Particle on Electrode

著者名: 奥村 典男(長崎総合科学大学),田中 僚(長崎総合科学大学)

著者名(英語): Norio Okumura(Nagasaki Institute of Aplied Science),Ryou Tanaka(Nagasaki Institute of Aplied Science)

要約(日本語): SF6ガス等の絶縁破壊特性を知るためにフラッシオーバ電圧(以下FOVと略)を測定する時、FOVにばらつきが生じる事が知られている。これは、電極表面の小突起や微粒子によるものと思われる。そこで本研究では、電極表面の放電痕の観測、電極表面の微粒子の顕微鏡観察、カバーグラスにより微粒子を極板表面から絶縁した場合とそうでない場合のFOVの比較、及び微粒子の元素分析などからFOVのばらつきが微粒子により影響を受けるということを実験的に明らかにした。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,292 Kバイト