低周波低雑音計測システム

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-161

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Low Frequency Low Noise Measurement System

著者名: 横倉 三郎(明星大学),田沼 伸久(明星大学),鷹野 致和(明星大学),橋口 住久(山梨大学)

著者名(英語): Saburo Yokokura(Meisei University),Nobuhisa Tanuma(Meisei University),Munecazu Tacano(Meisei University),Hashiguchi Sumihisa(Yamanashi University)

キーワード: 低周波雑音|1/fノイズ|雑音計測

要約(日本語): RF-CMOS の微小化・小信号化、InGaAsHEMTの高周波化・極小化、GaNHFETの大出力化に伴って、各デバイスの低周波雑音がS/N比を考える上で重要なファクターとなってきており、最近はDC測定と同様基本的性能として低周波雑音がまず測定されている。低周波雑音は基板材料、電極形成技術、パッシベーション形成技術のモニターとしてばかりでなく、デバイスの実際のシステムへの適合性を決定する重要ファクターであり、この計測が汎用的に用いられつつある。我々は、-183 dBV2/Hzの世界最高入力感度を持つ前置増幅器を開発し、出力をPCに導入してフーリエ解析することでDUTの近くに設置できる小型の信号計測システムを開発した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 775 Kバイト