Polb殱chel型沿面放電下における微小空隙内のPD破壊
Polb殱chel型沿面放電下における微小空隙内のPD破壊
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-039
グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集
発行日: 2004/03/17
タイトル(英語): PD Breakdown Characteristics in a Micro Gap - In the Case of a Surface Discharge Pattern of Polbüschel-type-
著者名: 今井 國治(名古屋大学),木下 幸弘(名古屋工学院専門学校),木全 浩市(タツタ電線)
著者名(英語): Kuniharu Imai(Nagoya University),Yukihiro Kinoshita(Nagoya Kogakuin College of Technology),Koichi Kimata(Tatsuta Wire &Cable co.LTD)
キーワード: 部分放電破壊|摩耗破壊|偶発破壊|酸化劣化
要約(日本語): 筆者らは、これまでに模擬ボイドモデルと称するモデルを用いて微小空隙内のPD劣化・破壊現象について検討を行ってきた。その結果、微小空隙内では、沿面放電形態がPolbüschel とGleitbüschelに分かれることを明らかにした。そこで、本研究では、Polbüschelが支配的となる電圧範囲内のPD破壊現象について検討を行った。その結果、印加電圧の大きさによりPD破壊モードが摩耗的なPD破壊と偶発的なPD破壊とに分かれることを明らかにした。さらに、前者についてはアレニウスプロットの結果から酸化劣化が、後者については電界計算の結果からPD点孤の偶発性が支配的な要因になるのではないかと示唆した。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,252 Kバイト
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