ポリアミド系ナノコンポジットの部分放電劣化～原子間力顕微鏡・共焦点顕微鏡による観察～

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-040

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Partial Discharge Degradation of Polyamide Nano-Composites -Observation by Atomic Force and Confocal Laser Scanning Microscopes-

著者名: 布施則一 (早稲田大学),小迫雅裕 (早稲田大学),深澤知憲 (早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),村瀬繁満 (東京農工大学),田中祀捷 (早稲田大学)

キーワード: 電気絶縁|ナノコンポジット|部分放電|表面劣化|絶縁劣化|表面放電

要約(日本語): IEC(b)電極系を用いてポリアミド系ナノコンポジット試料および従来のポリアミドの表面に部分放電を生じさせたのちに、原子間力顕微鏡および共焦点顕微鏡により劣化面を観察した。ナノコンポジット試料においては、従来のポリアミドに比べ、劣化を受ける割合は著しく小さい。さらに、フィラー充填率が高くなるほど劣化深さはより浅く、またその面もより平坦となった。この優れた耐部分放電性は、均一に分散された多くのシリケート層が結晶核となり微小な結晶が形成されているというナノコンポジットの構造がもたらしていると考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 898 Kバイト