IEC(b)電極によるポリアミドナノコンポジットの部分放電劣化～電極からの距離の影響～

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-041

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): PD Degradation of Polyamide Nanocomposite by IEC(b) Electrode Method -Effect of Distance from Electrode-

著者名: 城戸 亮一(早稲田大学),小迫 雅裕(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),岡本 達希(電力中央研究所),田中 祀捷(早稲田大学)

著者名(英語): Kido Ryouichi(Waseda University ),Kozako Masahiro(Waseda University ),Ohki Yoshimichi(Waseda University ),Okamoto Tatsuki(CRIEPI),Tanaka Toshikatsu(Waseda University)

キーワード: ポリアミドナノコンポジット|耐部分放電性|IEC(b)電極|走査型電子顕微鏡|部分放電劣化過程|シリケート層

要約(日本語): 筆者らは、新しい固体電気絶縁材料としてポリマー系ナノコンポジット材料の可能性に着目している。IEC(b)電極系の棒電極に交流高電圧を印加し、ポリアミドナノコンポジットの表面に部分放電を発生させた。課電試験終了後、走査型電子顕微鏡(SEM)により最も劣化が激しいと思われる電極接触部付近から試料端部の未劣化部に向かって0.5mmごとに試料表面を撮影した。撮影したSEM画像より部分放電劣化過程の検討を行った。その結果、劣化初期では非晶部の劣化が先行したため非晶部が揮発し、シリケート層を核とした結晶部が析出される。劣化が進むと更に下部の結晶部が析出されていくという劣化過程が考察できた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,024 Kバイト