IEC(b)電極によるポリアミドナノコンポジットの部分放電劣化～劣化表面のフィラー観察～

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-042

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): PD Degradation of Polyamide Nanocomposite by IEC(b) Electrode Method ~Observation of Fillers on Degraded Surface~

著者名: 小迫 雅裕(早稲田大学),布施 則一(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),岡本 達希(電力中央研究所),田中 祀捷(早稲田大学)

著者名(英語): Masahiro Kozako(Waseda University),Norikazu Fuse(Waseda University),Yoshimich Ohki(Waseda University),Tatsuki Okamoto(CRIEPI),Toshikatsu Tanaka(Waseda University)

キーワード: ポリアミドナノコンポジット|新しい固体絶縁材料|部分放電劣化|IEC(b)電極|フィラー観察|シリケート層

要約(日本語): これまで、ナノフィラー未添加のポリアミドに比べて、ポリアミドナノコンポジットの耐部分放電性が優れていることを述べた。今回、ポリアミドナノコンポジットの耐部分放電性向上の機構解明を目指し、部分放電劣化後の表面に析出されたフィラーを、通常のガラス繊維添加のポリアミドコンポジットのものと比較検討した。その結果、ナノコンポジット中のフィラーであるシリケート層の配向状態や結合状態による結晶構造の影響、あるいはシリケート層の存在の影響によって、ポリアミドナノコンポジットは通常のコンポジットに比較して、耐部分放電性が優れていることがわかった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,052 Kバイト