電圧印加履歴が高分子絶縁体中のキャリア移動度に及ぼす影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-068

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Carrier Mobility in Insulating Polymer Influenced by Hysteresis of Applied Voltage

著者名: 村上 義信(豊橋技術科学大学),根本 雅敬(豊橋技術科学大学),穂積直裕 (豊橋技術科学大学),長尾 雅行(豊橋技術科学大学)

著者名(英語): Yoshinobu Murakami(Toyohashi University of Technology),Masanori Nemoto(Toyohashi University of Technology),Naohiro Hozumi(Toyohashi University of Technology),Masayuki Nagao(Toyohashi University of Technology)

キーワード: 高分子絶縁体|電圧履歴|移動度

要約(日本語): 誘電・絶縁材料の重要な評価パラメータの一つにキャリア移動度があるが、本研究ではパケット状電荷が発生するような高電界印加前後の移動度や伝導電流の変化を測定した。その結果、高電界印加後の方が印加前より移動度および伝導電流ともに大きくなることがわかった。これは、(1)高電界印加中に注入された電荷が捕獲準位を埋めたまま残留するため、その後に注入された塊状電荷の見かけ上の移動度が大きくなるため、または、(2)高電界印加中に解離キャリアが発生し、これが注入キャリアに比べ動き易い場合、その後に注入された電荷塊を中和するようにキャリアが移動するためと考えられた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,013 Kバイト