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電子線を照射したPolyimideの昇温時における伝導電流測定

電子線を照射したPolyimideの昇温時における伝導電流測定

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-072

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Conduction Current Measurement in Electron Beam Irradiated Polyimide Film During Elevating Temperature

著者名: 佐藤秀一 (武蔵工業大学),小倉 将和(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),深尾 正(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学)

著者名(英語): Sato Shuichi(Musashi Insutitute of Technology),Ogura Masakazu(Musashi Insutitute of Technology),Tanaka Yasuhiro(Musashi Insutitute of Technology),Fukao Tadasi(Musashi Insutitute of Technology),Takada Tatuo(Musashi Insutitute of Technology)

キーワード: 空間電荷分布測定|熱刺激電流測定|電子線照射|ポリイミド

要約(日本語): 人工衛星などの宇宙機に使用されているポリイミドは、-120~150℃に及ぶ温度差や数k~MeVの高エネルギー電子線が飛来する過酷な環境下で、安定した動作が要求される。このような環境下における材料特性を評価するために、我々は電子を照射したポリイミドを用いて、パルス静電応力(PEA)法と熱刺激電流(TSC)測定の同時測定(熱刺激空間電荷分布測定)を用いた伝導電流の調査を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,011 Kバイト

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