CMOS発振回路を有する高周波キャリア型磁界センサに及ぼすスイッチング電源ノイズの影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-145

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Influence of Switching Power Supply Noise on High Frequency Carrier Type Magnetic Field Sensor using CMOS Oscillator Circuit

著者名: 西島 健一(発紘電機),滝澤 和孝(信州大学),佐藤敏郎 (信州大学),山沢清人 (信州大学)

著者名(英語): Ken-ichi Nishijima(Hakko Electronics Co.,Ltd.),Kazutaka Takizawa(Shinshu University),Toshiro Sato(Shinshu University),Kiyohito Yamasawa(Shinshu University)

キーワード: CMOS発振回路|磁界センサ|スイッチング電源|電源ノイズ|振幅変調

要約(日本語): 本論文は,CMOS発振回路を有する高周波キャリア型磁界センサにおける電源ノイズの影響について検討した結果を述べるものである。CMOS発振回路の電源にスイッチング電源を用いた場合,高周波キャリア信号に電源ノイズが振幅変調されて発生することになり,電源ノイズ成分と交流磁界の検出信号が判別できなくなる可能性がある。ここでは,伝送線路型磁界センサを用いて,CMOS発振回路から伝搬してくる電源ノイズが磁界検出に与える影響について調べた。その結果,スイッチング電源によって,電源ノイズと磁界信号の判別および磁界検出の周波数帯域が大きく影響されること,センサに用いる電源の有効な方策などについて明らかにする。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,467 Kバイト