可変周期減衰振動波高電圧試験装置の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-023

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Variable Frequency Attenuation Wave High Testing Apparatus

著者名: 貫洞 正明(東海大学),下山 鉄矢(東海大学),石田 晋也(東海大学)

著者名(英語): Kando Masaaki(Tokai University),Shimoyama Tetsuya(Tokai University),Ishida Shinya(Tokai University)

キーワード: IGBT|空芯変圧器|ブリッチ回路|発振器|光トリガー|減衰振動波

要約(日本語): 電子情報化社会の発展に伴い、益々情報通信機器、電力制御機器,家電製品は高機能、高性能化になってきている。しかし、これらの機器や電力機器(含電力ケーブル)を.外部雑音(開閉サージ、雷サージ、スイッチング回路から発生するパルス性過渡的過電圧など)から保護するために、フィルター、避雷器,半導体素子が用いられている。しかしながら、これらの性能を向上させるためには、外部雑音を模擬する電源の開発が不可欠である。今回、IGBT、空芯変圧器、ブリッジ回路、発振器、光トリガー回路を用いて高電圧で減衰振動波を発生させ、かつ周期が可変できる試験装置を開発したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 839 Kバイト