DeviceNetのPLCスキャン処理への影響に関する一考察

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-216

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Effects of DeviceNet on the Cyclic Scan of Programmable Logic Controllers

著者名: 長尾 達明(神奈川県産業技術総合研究所),宮澤 以鋼(神奈川県産業技術総合研究所)

著者名(英語): Tatsuaki Nagao(Kanagawa Industrial Technology Research Institute),Iko Miyazawa(Kanagawa Industrial Technology Research Institute)

キーワード: プログラマブルロジックコントローラ|シーケンサ|フィールドネットワーク|DeviceNet|スキャン処理

要約(日本語): FA(Factory Automation)の分野では,各種センサや駆動機器などの省配線のためにフィールドネットワークが使用されており,現在は日本のCC-Link,米国のDeviceNet,欧州のPROFIBUSが普及している。当研究所においては,CC-Linkの適合性評価試験を実施していると同時に,関連研究も行っている。PLC (Programmable Logic Controller)のスキャン周期がLD (Ladder Diagram) の段の長さにより,変化することに着目し,PLCの実行時間に関する評価方法を提案した。今回は,DeviceNetを用いた時のデジタル出力に注目し,実際のシステムにおいて考慮すべき出力遅れ時間について報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,135 Kバイト