汚損避雷器の内部素子の挙動(第3報)

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-186

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Behavior of internal element of contaminated surge arrester(The Third report)

著者名: 大脇淳一 (名城大学),内藤 克彦(名城大学),水野 幸男(名古屋工業大学),荒川 克己(日本ガイシ)

著者名(英語): Jun'ichi Owaki(Meijo University),Katsuhiko Naito(Meijo University),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology),Katsumi Arakawa(NGK Insulators,LTD.)

キーワード: 避雷器|汚損|熱暴走|素子温度

要約(日本語): 避雷器は自然環境にさらされるため、碍管表面に汚損・湿潤物が付着する。そして、避雷器の碍管表面が汚損湿潤し乾燥していく過程で、碍管表面に生じる不均一な電位分布が内部素子柱に沿った不均一電位分布を招き、避雷器破壊の原因となると報告されている。また、温度上昇は避雷器故障の原因ではなく、内部放電が原因となっていると報告されている。筆者等は汚損された避雷器の素子と碍管間のギャップで高い電位集中が発生し火花放電を引き起こすものの、熱暴走に至らない事も報告した。そこで本研究では、熱暴走が発生する条件を調べた結果を報告する。

原稿種別: 日本語

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