I-V特性を利用したPVアレイの出力低下個所の特定 - PVアレイの一部に影がかかった場合 -

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-037

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): The determination of the defecting part in a PV array using I-V characteristic?In the case of a PV array with a PV cell covered by shadow ?

著者名: 熊田 和彦(名城大学),山中 三四郎(名城大学),河村 一(名城大学),大野 英之(名城大学),河村 英昭(名城大学)

著者名(英語): Kazuhiko Kumada(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Hazime Kawamura(Meijo University),Hideyuki Ohno(Meijo University),Hideaki Kawamura(Meijo University)

キーワード: 太陽光発電|I-V特性|診断|影

要約(日本語): PVアレイの故障個所を特定することは、保守・管理上重要である。筆者らはI-Vカーブの形状変化から故障個所や発電電力低下を生じた箇所を特定する方法について検討している。前回の報告では、PVアレイを構成しているPVモジュールの一部分に断線等の故障生じ、発電電力の低下した場合にPVアレイをいくつかのブロックに分割し、各ブロック毎にI-V特性を測定し、これらを比較することによって、最終的にその箇所を特定する方法について検討を行った。本報告では、PVアレイを構成しているPVモジュールの一部に影がかかり発電電力が低下した場合でも、出力低下を起こしているPVモジュールが特定可能であることを明らかにする。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 897 Kバイト