全面導電釉がいしの釉薬抵抗変化検出に関する基礎検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-092

グループ名: 【全国大会】平成16年電気学会全国大会論文集

発行日: 2004/03/17

タイトル(英語): Basic Investigation on Detection of Resistance Change of Semiconducting Graze Insulator

著者名: 穂永信 (名古屋工業大学),水野 幸男(名古屋工業大学),内藤 克彦(名城大学),森 重男(日本ガイシ),鈴木 良博(日本ガイシ)

著者名(英語): Makoto Honaga(Nagoya Institute of Technology),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology),Katsuhiko Naito(Meijo University),Shigeo Mori(NGK Insulators),Yoshihiro Suzuki(NGK Insulators)

キーワード: 碍子|釉薬抵抗変化|全面導電釉

要約(日本語): 全面導電釉がいしは、半導電性釉薬による均圧効果とジュール熱による発熱、乾燥効果により極めて優れた耐汚損特性を有するが、長時間使用時には導電釉が劣化を受ける可能性も指摘されている。電流集中による発熱、部分放電などの観点からその原因を検討するとともに、釉薬部を流れる電流波形の高調波成分による釉薬抵抗変化の検出可能性を検討してきた。今回、高速リアルタイムスペクトラムアナライザを用いて電流波形の周波数成分の解析を行った。通電電荷量増加に伴う高調波成分の基本波に対する割合について、解析した結果、第三高調波成分が、通電電荷量増加に伴い減少傾向にあることが確認できた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 887 Kバイト