LCRメータを用いた置換法によるインダクタ校正の不確かさ評価
LCRメータを用いた置換法によるインダクタ校正の不確かさ評価
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-127
グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集
発行日: 2005/03/15
タイトル(英語): Uncertainty Evaluation of Inductance Measurement by Substitution Method Using a LCR Meter
著者名: 米永 暁彦(産業技術総合研究所),中村 安宏(産業技術総合研究所)
著者名(英語): Akihiko Yonenaga(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology,National Metrology Institute of Japan),Yasuhiro Nakamura(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology,National Metrology Institute of Japan)
キーワード: 標準インダクタ|インダクタンス標準|LCRメータ|置換法|インピーダンス標準|不確かさ
要約(日本語): 産総研計量標準総合センター(NMIJ/AIST)では、周波数 1000 Hz における 10 mH 及び 100 mH 標準インダクタのインダクタンスを、相対標準不確かさ 30 ppm 程度で校正するシステムの実現に向けて取り組んできた。校正方法には、比較器に市販のLCRメータを用いた置換法を採用した。同軸スキャナの試作により、自動校正システムを製作した。NMIJ/AISTの参照標準器である標準インダクタは、量子化ホール抵抗(QHR)にトレーサブルなキャパシタンス標準から校正した。今回、LCRメータなどの誤差要因を研究し、本校正の詳細な不確かさ評価を行った。結果、目標とする不確かさで校正値が得られることを確認した。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 2,010 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
