部分放電電流波形と発光の同時観測による絶縁劣化機構の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-031

グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集

発行日: 2005/03/15

タイトル(英語): Study on Deterioration Mechanism by Simultaneous Observation of Current Forms and Light Emission of Partial Discharge

著者名: 太田大輔 (名古屋大学),古森郁尊 (鳥羽商船高専),鈴置保雄 (名古屋大学)

キーワード: 部分放電|ボイド|電流波形|発光

要約(日本語): ボイド中の部分放電機構の解明は、絶縁劣化診断精度の向上に有益な知見を与えると期待される。絶縁材料の劣化機構を解明するため、部分放電の放電機構に関する情報を与える電流波形および、位置的情報を与える発光箇所を同時に観測するシステムを構築した。これにより、両者の一対一の対応付けが可能となり、その経時変化を観測することで劣化との相関関係を検討する。現在まで、このシステムを用いた測定で、課電初期の部分放電において、雰囲気ガスの影響により放電発生位相角全域において同様の放電機構で放電が発生するが、極性反転後1発目の放電の影響で2発目以降の放電箇所が異なることが判明した。今後は、雰囲気ガスの変化を考慮した電極系を用いて経時変化を観測する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 931 Kバイト