CIC導体の素線軌跡調査と接触抵抗の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-031

グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集

発行日: 2005/03/15

タイトル(英語): Investigation of interstrand resistance by studying traces of strands in CIC conductor

著者名: 谷貝 剛(東北大学),佐藤秀成 (東北大学),濱島高太郎 (東北大学),布谷 嘉彦(日本原子力研究所),高橋 良和(日本原子力研究所),奥野 清(日本原子力研究所)

著者名(英語): Tsuyoshi Yagai(Tohoku University),Hidenori Sato(Tohoku University),Takataro Hamajima(Tohoku University),Yoshihiko Nunoya(Japan Atomic Energy Research Institute),Yoshikazu Takahashi(Japan Atomic Energy Research Institute),Kiyoshi Okuno(Japan Atomic Energy Research Institute)

キーワード: ケーブル・イン・コンジット|撚り乱れ|交流損失|素線軌跡|接触抵抗

要約(日本語): 大型超電導導体では、超電導素線を多数段に撚り合わせ、金属のケースに収納したケーブル・イン・コンジット（CIC）導体が用いられる。高電流密度化のために、導体はケースに収納する際に圧縮される。そのとき素線の撚り乱れが発生し、素線間の接触抵抗が減少することによって、長尺導体で交流損失増大の原因になっていると考えられる。本研究では、1cm間隔でカットしたCIC導体を用いて素線の軌跡を詳細に調査し、素線間の接触抵抗を定量的に検討することを目的とする。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 843 Kバイト