Bi-2223テープにおけるダメージ長と臨界電流低下の関係

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-057

グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集

発行日: 2005/03/15

タイトル(英語): Relation between damaged length along Bi-2223 tape and its degradation

著者名: 岩村 力(上智大学),梅川 健治(上智大学),深澤雄太 (上智大学),美野輪成利 (上智大学),高尾 智明(上智大学),田中 秀樹(産業技術総合研究所),梅田 政一(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Tsutomu Iwamura(Sophia University),Kenji Umekawa(Sophia University),Yuta Fukasawa(Sophia University),Shigetoshi Minowa(Sophia University),Tomoaki Takao(Sophia University),Hideki Tanaka(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology),Masaichi Umeda(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: Bi-2223テープ|Ic劣化|横圧縮力|ダメージ長|電磁力

要約(日本語): 超伝導機器において、線材には強大な電磁力が加わることがある。このとき、引張力はテープ全長に均一に加わるが、面に対し垂直な横圧縮応力はテープの一部分だけに加わる。Bi-2223テープに関し、これまでは引張応力によるIc劣化試験の報告が多く、横圧縮応力に対する劣化試験の報告は少ない。そこでBi-2223テープに横圧縮応力を印加し、Ic劣化のダメージ長依存性を検討した。応力換算後の結果より、約30MPa以上の応力において、ダメージ長が大きいほどIc劣化が早いことが確認された。これはn値に関しても同様であった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 293 Kバイト