分流保護層が施されていないYBCO薄膜の耐久試験と破壊時の観測

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-058

グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集

発行日: 2005/03/15

タイトル(英語): Endurance test and Observation during destruction of YBCO thin film without metal layer

著者名: 大谷章文(東京電機大学),古瀬充穂(産業技術総合研究所),清水巌(東京電機大学),堀哲雄(東京電機大学),海保勝之(新機能素子研究開発協会),山口巌(産業技術総合研究所),柳父悟(東京電機大学)

著者名(英語): Akifumi Ootani|Mitsuho Furuse|Iwao Shimizu|Tetsuo Hori|Katsuyuki Kaiho|Iwao

キーワード: YBCO薄膜|耐電圧

要約(日本語): 一般の超電導素子ではクエンチ時のホットスポット現象を防ぐために、超電導素子に金属被膜を施している。しかし、金属層の付加はクエンチ時における超電導素子の抵抗を大きく下げてしまい、所望の抵抗値を得るためには大量の素子を用いなければならない。そのため、限流器の作製コストが莫大になることが予想される。そこで、筆者らはクエンチ後の抵抗が高く、金属被膜を用いていないYBCO薄膜に着目し実験を行っている。抵抗型超電導限流器は事故発生直後の故障電流を素子がクエンチすることで瞬時に抑制し、また事故除去後は即座に超電導状態に復帰しなければならない。つまり、超電導素子は事故除去後も使用可能な状況でなければならない。そこで、この実験では薄膜の使用限界を、交流半波電流を通電することにより調査した。また、薄膜の破壊時の状況を高速度カメラで撮影し、破壊がどのようにして起こるのか調査した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 3,357 Kバイト