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エレメントパターンによるエッチングヒューズの遮断特性の比較

エレメントパターンによるエッチングヒューズの遮断特性の比較

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-199

グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集

発行日: 2005/03/15

タイトル(英語): Breaking Characteristics of the Etching Fuse with various Pattern Elements

著者名: 浅山 三夫(埼玉大学),広瀬 健吾(埼玉大学),山納 康(埼玉大学),小林 信一(埼玉大学)

著者名(英語): Mitsuo Asayama(Saitama University),Kengo Hirose(Saitama University),Yasushi Yamanou(Saitama University),Shinichi Kobayashi(Saitama University)

キーワード: ヒューズ|遮断試験法

要約(日本語): 本研究はエッチングヒューズのエレメントにおいて、遮断部の並列点数と遮断性能の関係、及び遮断部の近傍のみメッキ厚さを薄くした場合の効果について検証し、現用ヒューズリンクの性能改善を図ることを目的として実施した。遮断試験の結果から、並列遮断点数を大きくすることによって限流値は明らかに小さくなり、またI2tの値も顕著ではないが小さくなる傾向にあることが分かった。一方遮断部近傍のメッキ厚さを薄くし、他の部を厚くすることにより、定格電流の値が大きくなることの確認も得られた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 199 Kバイト

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