ボイドによる固体絶縁物の長期劣化とAEセンサ出力との相関性に関する検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-218

グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集

発行日: 2005/03/15

タイトル(英語): Experimental Investigation about the Relationship between Long-term Degradation of Void and Output Signal of AE Censer

著者名: 佐藤純一 (東芝),塩入 哲(東芝),阪口 修(東芝),宮川 勝(東芝)

著者名(英語): Junichi Sato(Toshiba Corporation),Tetsu Shioiri(Toshiba Corporation),Osamu Sakaguchi(Toshiba Corporation),Masaru Miyagawa(Toshiba Corporation)

キーワード: 固体絶縁物|部分放電|絶縁診断|AEセンサ

要約(日本語): 本論文は、ボイド放電により固体絶縁物の長期間劣化させ、そのときの部分放電信号をCTセンサとAEセンサで継続的に調査し、部分放電形態とAE出力との相関性について報告したものである。AEセンサの出力信号は、部分放電の形態により検出感度が高いものと低いものがあることを明らかとした。また、劣化進展に起因すると考えられる離散的なパルス信号に対して、感度が高いことを示した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,326 Kバイト