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光学的測定による小電流真空アークの考察

光学的測定による小電流真空アークの考察

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-245

グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集

発行日: 2005/03/15

タイトル(英語): Discussion on the Vacuum Arc of a Low Current with Optical Investigation

著者名: 山本 晃生(東京電機大学),ミジーティトルソン (東京電機大学),丁翠娥 (東京電機大学),柳父 悟(東京電機大学)

著者名(英語): Teruo Yamamoto(Tokyo Denki University),Toruson Mijit(Tokyo Denki University),Ding Cuie(Tokyo Denki University),satoru Yanabu(Tokyo Denki University)

キーワード: 小電流真空アーク|裁断現象|スペクトル強度

要約(日本語): 真空中のアーク放電は,電極から放出されるイオン化された金属蒸気や電子によって維持されていることから,アーク放電の安定性は,電極材料が蒸気を生成する能力や熱電子を放出する能力と関係が深いものと考えられている。本報告は,小電流真空アーク中において,自然電流零点前に不安定となり電流が裁断される裁断現象について,さらなる解明のために,Cu,CuCr,CuW,CuBiおよびAgWC電極ごとの波形解析から得られた裁断電流値とスペクトル分析の光学的測定から得られた光強度の総量,電流裁断時での光強度および光強度の減衰速度について比較検討を行ったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,544 Kバイト

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