試料厚さ方向の分解能を有する誘電計測によるシリコーンゴムの劣化診断手法の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-146

グループ名: 【全国大会】平成17年電気学会全国大会論文集

発行日: 2005/03/15

タイトル(英語): Development of Deterioration Diagnostic Technique of Silicone Rubber Using Dielectric Measurement with Detection of Thickness Direction

著者名: 佐藤 潤(岐阜工業高等専門学校),所 哲郎(岐阜工業高等専門学校),小崎正光 (岐阜工業高等専門学校)

著者名(英語): Jun Sato(Gifu National College of Technology),Tetsuro Tokoro(Gifu National College of Technology),Masamitsu Kosaki(Gifu National College of Technology)

キーワード: シリコーンゴム|劣化診断|誘電特性|がいし

要約(日本語): シリコーンゴムなどの高分子がいしの初期絶縁劣化診断技術として材料表面の撥水性の評価が用いられている。しかしながら撥水性は、材料表面層の状態で主に決定され、材料内部の厚さ方向の劣化状態を評価することは困難である。本研究では、くし形電極系を試料の片側表面にのみ設置し、試料表面からの厚さ方向分解能を有する誘電計測手法を用いた材料劣化診断手法を確立することを目指した。その結果、くし形電極系に直接接触していなくとも、電極間隔と同じ厚さとなる2枚目の試料まではその誘電特性を検出可能であることが分かった。また、電極間隔を超える、3枚目の試料に関してはほとんど検出できていないことが示唆された。

原稿種別: 日本語

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