ポッケルス効果を用いた絶縁体表面における帯電分布測定装置の開発
ポッケルス効果を用いた絶縁体表面における帯電分布測定装置の開発
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-110
グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集
発行日: 2006/03/15
タイトル(英語): Development of measurement system for surface charge distribution on insulating material using Pockles effect
著者名: 安野 順介(武蔵工業大学),森山 喬生(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学),室岡 義広(芝浦工業大学)
著者名(英語): Junsuke Yasuno(Musashi institute of technology),Takao Moriyama(Musashi institute of technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi institute of technology),Tatsuo Takada(Musashi institute of technology),Yoshihiro Murooka(Shibaura institute of technology)
キーワード: 表面帯電|沿面放電|ポッケルス効果
要約(日本語): 宇宙機表面の絶縁材料はプラズマや電子線、プロトンなどの過酷な宇宙環境に曝されるため、帯電し沿面放電発生の原因となる。沿面放電が発生すると機器の誤動作や劣化・破壊を引き起こす恐れがある。これを抑制するためには沿面放電の絶縁材料依存性を調査し、帯電防止策を考案する必要がある。これまでに著者らはポッケルス効果を有するBSO結晶を用いた光学的手法により、沿面放電による表面電荷分布の測定を行ってきた。しかし、絶縁材料表面における測定では、絶縁材料をBSO上に置くとBSO上面の反射光と絶縁材料下面の反射光が干渉するため干渉稿が発生し、明瞭な分布画像を得ることが困難であった。今回我々は絶縁材料下面における反射を防止することで、干渉稿を除去し、絶縁体表面上における表面帯電分布を得ることができたので報告する。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 873 Kバイト
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