感温液晶を用いた電子線照射下における高分子絶縁材料内部の温度分布測定システムの開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-119

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Development of temperature distribution measurement system in electron beam irradiated polymeric insulating materials using thermo-chromic liquid crystal

著者名: 三觜 健太(武蔵工業大学),籾山 弘行(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),松井 康平(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学),鈴木 敬久(首都大学東京),福永 香(情報通信研究機構)

著者名(英語): Kenta Mitsuhashi(Musashi Insutitute of Technology),Hiroyuki Momiyama(Musashi Insutitute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Insutitute of Technology),Kouhei Matsui(Musashi Insutitute of Technology),Tatsuo Takada(Musashi Insutitute of Technology),Yukihisa Suzuki(Tokyo Metropolitan University),Kaori Fukunaga(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: 感温液晶|高分子絶縁材料|電子線|パルス静電応力法

要約(日本語): 宇宙機の表面や構造材に多く使われている高分子絶縁材料は、電子などの高エネルギー粒子線に曝されると帯電し、発熱する。過大なエネルギーの電子線を高分子絶縁材料に照射すると、材料が溶解する場合もあるが、電子線のエネルギーや電流密度と温度上昇の関係は一般的に知られていない。そこで、熱に反応して色が変化する感温液晶を用いることで、電子線照射下における試料内部の温度分布を測定するシステムを開発している。本システムでは透明絶縁体試料にマイクロカプセル化した感温液晶を混合し、この試料に電子線を照射する。試料内部で発生した熱に感温液晶が反応して変色するので、スリット光で照射することで試料内部の断面的な温度分布を観測することが出来る。今回は、電子線照射によるエポキシ樹脂内部の熱源領域と、PEA法で得られた試料内の電荷進入深さとの関係を調査した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 873 Kバイト