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プラズマフォーカスを用いたイオンビームによる表面改質

プラズマフォーカスを用いたイオンビームによる表面改質

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-145

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Surface modification by Ion beam created in Plasma Focus device

著者名: 中田 洋平(富山大学),江尻 裕一(富山大学),Yousefi Hamid Reza (富山大学),北村 岩雄(富山大学),伊藤 昭弘(富山大学),升方 勝巳(富山大学)

著者名(英語): Yohei Nakada(University of Toyama),Yuichi Ejiri(University of Toyama),Yousefi Hamid Reza (University of Toyama),iwao Kitamura(University of Toyama),Akihiro Itou(University of Toyama),Katumi Masugata(University of Toyama)

キーワード: プラズマ|イオンビーム|表面改質

要約(日本語): プラズマフォーカス ( PF ) は単純な装置にもかかわらず,高密度プラズマを生成でき,そのピンチ領域から強力なイオンビームを発生させることができる.このイオンビームを材料に照射することにより,表面層のみ加熱・融解した後,パルス終了後に急激に冷却・凝固される.我々はこの短時間で急激な温度変化を利用した固体材料表面の改質を行い,新機能材料の作成を目指している.実験では,材料にステンレス ( SUS304 ) を用い,プロトンビームを照射し,照射前後のX線解析,SEM等により改質の評価を行った.またイオン電流密度の測定器としてBIC ( バイアスイオンコレクタ ) を用いた.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,046 Kバイト

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