ボイド表面の劣化状態を考慮した部分放電劣化機構の検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-029

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Study on PD Degradation Mechanism by Taking Account of State of Void-Surface Degradation

著者名: 太田大輔 (名古屋大学),古森郁尊 (鳥羽商船高専),鈴置保雄 (名古屋大学)

キーワード: 部分放電|ボイド|劣化|PDパターン|発光

要約(日本語): ボイド中の部分放電機構の解明は、絶縁劣化診断精度の向上に有用な知見を与えると期待されている。本研究ではこれまで、部分放電時の発光や課電中の試料表面の様子を観測し、課電時間に伴う放電箇所の変化と、試料表面の劣化の間に相関関係があることが示唆された。そこで、より長時間の課電により、試料表面の劣化を進行させ、放電箇所、PDパターン、および試料表面の劣化状態の相関関係について検討した。その結果、課電時間に伴い、放電箇所およびPDパターンが変化し、発光が観測された領域の試料表面が変化していることが分かった。今後は、表面の劣化から試料の破壊に至るまでの過程と機構について検討するため、さらに劣化を進行させ、放電箇所、PDパターン、および試料の表面状態の関係を詳しく検討する予定である。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,068 Kバイト