MOSFETによるインパルス巻線試験

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-034

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Insulation Diagnosis of Coil by Impulse Test using MOSFET

著者名: 華表宏隆 (芝浦工業大学),渋谷 義一(芝浦工業大学),梅津 潔(電子制御国際)

著者名(英語): Hirotaka Torii(Shibaura Institute of Technology),Yoshikazu Shibuya(Shibaura Institute of Technology),Kiyoshi Umezu(ECG KOKUSAI CO.,LTD.)

キーワード: 巻線|絶縁診断|レイヤーショート|インパルス試験|MOSFET

要約(日本語): 現行の巻線試験法として、供試巻線にインパルス電流を流してその端子電圧波形から良否診断するインパルス巻線試験がある。この方法は巻線の良否は診断できるが、波形比較という定量化されていない診断法であるため巻線の不良状況、診断根拠が必ずしも明らかにならない。そこで、より詳細な情報を得る方法として、インパルス印加時に端子電圧に加え端子電流も測定し、巻線の等価回路を割り出し、その回路定数の推定値から診断を行う方法について検討した。このときの実験回路には、従来使用しているサイリスタではなく高速スイッチングが可能なMOSFETを使用し、低インダクタンスの巻線にも十分なインパルス電圧が印加できるようにした。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,163 Kバイト