開磁路型SSTを用いた偏磁気特性測定法

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-130

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Development of Measuring Equipment of DC-biased Magnetic Properties Using an Open Magnetic Path Type of Single Sheet Tester

著者名: 吉田 努(岡山大学),中野 正典(岡山大学),宮城 大輔(岡山大学),高橋 則雄(岡山大学)

著者名(英語): Tsutomu Yoshida(The Graduate School of Natural Science and Technology,Okayama University),Masanori Nakano(The Graduate School of Natural Science and Technology,Okayama University),Daisuke Miyagi(The Graduate School of Natural Science and Technology,Okayama University),Norio Takahashi(The Graduate School of Natural Science and Technology,Okayama University)

キーワード: 偏磁|開磁路型単板磁気試験器|ヘルムホルツコイル

要約(日本語): 近年のパワーエレクトロニクスの発達に従い，電磁材料の励磁条件は多様化しており，磁界あるいは磁束密度に関して原点非対称となる偏磁が発生することがある．偏磁下での磁気特性については種々の検討がなされているが，偏磁量の制御などについては，検討すべき課題が多い．今回，開磁路型単板磁気試験器（2）（ Single Sheet Tester：SST ）と直流磁界を印加するためのヘルムホルツコイルを使用することにより，直流偏磁時の磁気特性を測定するシステムを考案したので報告する．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,172 Kバイト