低周波磁場欠陥検査手法の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-148

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Development of Low Frequency Magnetic Non-destructive Test Method

著者名: 石原 雄大(岡山大学),紀和 利彦(岡山大学),塚田 啓二(岡山大学)

著者名(英語): Yuudai Ishihara(Okayama University),Toshihiko Kiwa(Okayama University),Keiji Tsukada(Okayama University)

キーワード: 非破壊検査|磁気センサ|渦電流

要約(日本語): 現在ある磁気を用いた非破壊検査法は、一般に数kHz以上の高周波が広く用いられているため、深い位置の欠陥を検知することが困難であった。本研究では、それらを改善するために低周波磁場を照射し、磁気抵抗素子で検出する新しい検査装置を開発した。この装置は、渦電流による磁場のうち印加磁場に垂直な2成分を磁気センサを用いて検出し、画像化する特徴を有している。評価した結果、積層構造の試料で裏面の欠陥を計測することが出来た。また、周波数を変化させることで深さ方向の情報を得ることも可能となった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 846 Kバイト