第三高調波誘導電圧法による超電導薄膜の欠陥検出に関する研究

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-026

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Investigation of the defect detection in the high temperature superconducting film using the third harmonic voltage method

著者名: 朱 鎮弘(岡山大学),木島 孝(岡山大学),渡邊 准司(岡山大学),村瀬 暁(岡山大学),金 錫範(岡山大学)

著者名(英語): Jin-Hong Joo(Okayama University),Takashi Kijima(Okayama University),Junji Watanabe(Okayama University),Satoru Murase(Okayama University),SeokBeom Kim(Okayama University)

キーワード: 超電導薄膜|第三高調波誘導電圧法|欠陥検出|臨界電流測定

要約(日本語): ミニチュアコイルに交流電流を通電し、超電導薄膜の遮蔽電流によってコイルに誘導される電圧の第三高調波成分を測定することで臨界電流密度を評価する第三高調波誘導電圧法は、非破壊・非接触であり、さらに、非常に簡便な方法で臨界電流密度の測定が可能である(1-2)。しかしながら、上記の測定法の空間分解能はコイルの大きさによって制限される。そこで、本研究は、超電導薄膜に存在する微細欠陥について第三高調波誘導電圧法を用いて検出することを目的として行われたものであり、実験的に検討した結果について報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 875 Kバイト