大型CIC超電導体内の素線軌跡の解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-040

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Analysis of all strand location in a Large Superconducting CIC Conductor

著者名: 佐藤秀成 (東北大学),谷貝 剛(東北大学),津田 理(東北大学),濱島高太郎 (東北大学),布谷 嘉彦(日本原子力研究開発機構),高橋 良和(日本原子力研究開発機構),奥野 清(日本原子力研究開発機構)

著者名(英語): Hidenori Sato(Tohoku University),Tsuyosi Yagai(Tohoku University),Makoto Tsuda(Tohoku University),Takataro Hamajima(Tohoku University),Yoshihiko Nunoya(Japan Atomic Energy Research Institute),Yoshikazu Takahashi(Japan Atomic Energy Research Institute),Kiyoshi Okuno(Japan Atomic Energy Research Institute)

要約(日本語): 大型CIC導体では、撚り線導体をコンジットに収納する際の圧縮により、撚り乱れが発生する。この撚り乱れにより、長尺導体では長時定数成分を持った交流損失増大の例が観測された。交流損失の増大は、撚り乱れによって素線間の接触長さが長くなり、素線間接触抵抗が減少することによって発生すると考えられる。素線間の接触状況を調べるには、導体長手方向の素線軌跡に関する詳細な情報が必要となる。筆者らは、これまで81素線の1mサンプル導体を約11mm毎に切断し、詳細な素線軌跡調査と素線間接触状況の検討を行ってきた。本研究では、CIC導体内の素線の軌跡を推定するために、製造工程を考慮した解析方法を開発した。その妥当性を調べるために測定した素線軌跡と比較検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 872 Kバイト