圧縮力印加時のCIC導体の素線間接触抵抗変化

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-041

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Reduction of Inter-strand Contact Resistance Due to the Pressure in CIC Conductor

著者名: 谷貝 剛(東北大学),奈良 雄樹(東北大学),佐藤秀成 (東北大学),津田 理(東北大学),濱島高太郎 (東北大学),高畑 一也(核融合科学研究所)

著者名(英語): Yagai Tsuyoshi(Tohoku University),Nara Yuuki(Tohoku University),Sato Hidenori(Tohoku University),Tsuda Makoto(Tohoku University),Hamajima Takataro(Tohoku University),Takahata Kazuya(National Institute for Fusion Science)

キーワード: ケーブル・イン・コンジット導体|交流損失|素線間接触抵抗|電磁力

要約(日本語): 核融合実験装置や超電導電力貯蔵装置（SMES）では，マグネット用導体として直径1mm程度の超電導素線を多数段にわけて撚り合わせ，金属のケースに収めたケーブル・イン・コンジット(CIC)導体が用いられる．この導体は大電流，強磁場環境で用いられるため，大きな電磁力がかかる．電磁力によって素線同士が密着し，素線間接触抵抗が低下することが原因と思われる交流損失増大の観測例が報告されているが，定量的調査は未だない．そこで本研究では，Large Helical Device(LHD)のOVコイル導体のコンジットの一部を切り取り，圧縮機を用いて圧力をかけながら導体の横方向抵抗を計測した．その結果，圧縮部の横方向抵抗値が100kN/mの加重印加時で無加重時の約1／3程度に減少していることがわかった．これは，電磁力が作用することによる交流損失増大の可能性を示唆していると考えられる．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 880 Kバイト