PVアレイにおけるI-V特性の解析‐開放電圧付近の折れ曲がりについて‐

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-050

グループ名: 【全国大会】平成18年電気学会全国大会論文集

発行日: 2006/03/15

タイトル(英語): Analysis of the I-V characteristic of PV array-The bending near the open circuit voltage

著者名: 山本 芳樹(名城大学),山中 三四郎(名城大学),河村 一(名城大学),大野 英之(名城大学),河村 英昭(名城大学)

著者名(英語): Yoshiki Yamamoto(Meijo University),Sanshirou Yamanaka(Meijo University),Hajime Kawamura(Meijo University),Hideyuki Ohno(Meijo University),Hideaki Kawamura(Meijo University)

キーワード: PVアレイ|I-V特性|形状変化

要約(日本語): 筆者らは、I-V特性の形状変化から故障や発電電力低下の診断の可能性を検討している。これまでの報告においてPVアレイを構成しているPVモジュールの一部分に断線等の故障があると、I-V特性の開放電圧付近の形状が変化することがわかっている。しかしながら、最近、正常な状態のPVアレイにおいてもI-V特性の開放電圧付近に形状変化が生じていることがわかった。本報告では、正常時における開放電圧付近のI-V特性の形状変化が発生する原因について検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 792 Kバイト