汚損を模擬したシリコンゴム表面のアーク放電路の電界計算

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-049

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Electric field of arc discharge channel on silicon rubber surface under the contamination condition

著者名: 枦 健一(宮崎大学),朱 勇(宮崎大学),山本 浩文(宮崎大学),山下 洋平(宮崎大学),三宅 琢磨(宮崎大学),大坪 昌久(宮崎大学)

著者名(英語): Kenichi Haji(Miyazaki University),Yong Zhu(Miyazaki University),Hirohumi Yamamoto(Miyazaki University),Youhei Yamasita(Miyazaki University),Takuma Miyake(Miyazaki University),Masahisa Otsubo(Miyazaki University)

キーワード: シリコンゴム|アーク放電|電界計算|ポリマー碍子|導電率

要約(日本語): 従来の碍子は、磁器材料(磁器製)を用いたものが主流であったが、近年ではポリマー材料を用いたものが北米を中心として、その使用範囲を拡大してきている。これまで著者らは、ポリマー碍子の加速塩霧試験において、導電率を変化させて発生させたアーク放電路の形状がエロージョン量に影響することを明らかにした。汚損を模擬した水電極の導電率を変化させて発生させたアーク放電周囲の電界がどのように変化するかシミュレーションにより求めたので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,350 Kバイト