精密計測における負性インピーダンスの利用

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-128

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Utilization of Negative Impedance for DC/LF Precision Measurement

著者名: 八木 謙一(日本電気計器検定所),山脇 正夫(日本電気計器検定所),高橋 邦彦(日本電気計器検定所)

著者名(英語): Kenichi Yagi(JEMIC),Masao Yamawaki(JEMIC),Kunihiko Takahashi(JEMIC)

キーワード: 共振回路|負性インピーダンス|分圧器|負担

要約(日本語): 精密交直電気計測において，限られた試験点の校正値を広げる，すなわち試験電圧範囲を拡張する際，負荷インピーダンスを増大することが必要不可欠である。ただし，信号系に前向きに直接設置される電子回路は信号の誤差を誘起するため望ましくない。本論文では，試験精度に与える影響を軽減するため，負荷に並列に負性インピーダンスを接続する手法を提案している。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,435 Kバイト