低周波磁気検査システムを用いた積層構造内部の欠陥検査

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-140

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Evaluation of defect in the layered structure by using low-frequency magnetic evaluation system

著者名: 山田 博信(岡山大学),石原 雄大(岡山大学),紀和 利彦(岡山大学),塚田 啓二(岡山大学),玉積正司 (宇野工業)

著者名(英語): Hironobu Yamada(Okayama University),Yuudai Ishihara(Okayama University),Toshihiko Kiwa(Okayama University),Keiji Tsukada(Okayama University),Masaji Tamazumi(Uno Kogyo Co.,Ltd)

キーワード: 非破壊検査|低周波磁界|磁気抵抗素子|積層構造

要約(日本語): 本研究では，内部欠陥等の非破壊検査のために我々が開発した低周波磁気検査システムを用いて，積層構造の金属板における欠陥検出限界を検討するとともに，実用材の測定を行っている。まずはじめに，厚さ1 mmのアルミ板にきずをつけたものに傷のないアルミ板を重ねていくことで積層構造試料の厚みを増していき，検出限界を検討した。その結果，印加磁界が50 Hzの場合には，検出限界が約13 mmであった。次に，ステンレス板を丸めて溶接した筒を溶接箇所がお互いに約90度ずれるようして4層重ねた管を使用して測定を行った。その結果，表面から見えない積層構造内部の溶接箇所を検出することができた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 832 Kバイト