赤外線二次元ロックインアンプを用いたプラスチック内部の欠陥検出システムの開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-141

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Development of Defect Detection System for Polymeric Materials using an Infrared 2-D Lock-in Amplifier System

著者名: 千代 憲隆(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),前野 恭(情報通信研究機構)

著者名(英語): Noritaka Chiyo(Musashi Institute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Institute of Technology),Takashi Maeno(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: 二次元ロックインアンプ|赤外線カメラ|非破壊検査法|高分子材料

要約(日本語): プラスチック製品の塗装剥離、層間剥離や内部に生ずるボイドなどの検出のために赤外線映像装置を用いた表面温度分布計測が利用される。しかし、この手法では温度コントラストが微小である場合は雑音に埋もれてしまう。そこでわれわれは、二次元ロックインアンプを用いることで雑音を低減することを試みている。この測定を高感度化するためには欠陥の影響が試料の表面温度分布に顕著に現れる時間を計算する必要がある。そこで、今回は試料表面の温度動向を計算し実測値との比較を行なった。その結果、計算値と実測値の傾向はよく一致した。したがってこの計算によって適切な温度分布を取得する時間を定められると考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 842 Kバイト