伝導ノイズ対策用磁界プローブの作製

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-163

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Magnetic field probes for conduction noise measurement

著者名: 上野 武司(東京都立産業技術研究センター)

著者名(英語): Takeshi Ueno(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute)

キーワード: 磁界プローブ|伝導ノイズ|雑音端子電圧測定|EMC

要約(日本語): 電子機器のEMC試験の一つに伝導ノイズを測定する雑音端子電圧測定があり、そこで使用する磁界プローブを作製した。雑音端子電圧測定は各規制により限度値が定まっており、この限度値を超えたノイズが発生した場合、対策を施す必要がある。対策用の部品をどの場所に接続すればよいか、基板のどの部分にノイズ源が存在するか確認する時間を短縮するために、作製した磁界プローブを併用する。作製した磁界プローブは、プリント基板に基板加工機を用いて加工した。またプローブにコンデンサを直列に接続することにより、ノイズ源の位置がさらに簡単に特定できることを確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 878 Kバイト