イオンマイグレーション発生前の電極表面に生じるナノスケールの兆候

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-033

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): The signs of nanoscale caused on the electrode surface before ionic migration

著者名: 中井戸 宙(秋田大学),水戸部 一孝(秋田大学),吉村 昇(秋田大学)

著者名(英語): Hiroshi Nakaido(Akita University),Kazutaka Mitobe(Akita University),Noboru Yoshimura(Akita University)

キーワード: イオンマイグレーション|原始間力顕微鏡

要約(日本語): 近年、通信機器やコンピュータ等の電子回路の集積化・小型化に伴い、イオンマイグレーション（IM)によるプリント配線板の絶縁信頼性の低下が問題となる。本研究はIMの加速試験として温湿度定常試験を用い、IM発生前の電極表面に生じるナノスケールの兆候を明らかにすることを目的としており、原子間力顕微鏡（AFM）を用いて、IM発生前のプリント配線板の電極表面をAFMにより測定・解析し、三次元形状の経時変化を明らかにする。計測部位は試料のアノードおよびカソード電極であり、試験前、試験後の電圧印加・無印加の3つの条件における試料を計測した。さらに、表面平均粗さ(Ra)を算出し、各条件におけるRaの差違を比較検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 816 Kバイト