商品情報にスキップ
1 1

GC-MSとFT-IRによる架橋ポリエチレンの部分放電劣化の解析

GC-MSとFT-IRによる架橋ポリエチレンの部分放電劣化の解析

通常価格 ¥440 JPY
通常価格 セール価格 ¥440 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-038

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): An analysis of XLPE deteriorated by partial discharge using GC-MS and FT-IR

著者名: 山内 一輝(千葉工業大学)

著者名(英語): Yamauchi Kazuki(Chiba Institute of Technology)

キーワード: 絶縁材料

要約(日本語): 無添加XLPE(架橋ポリエチレン)と酸化防止剤を添加したXLPEを用いて、窒素と酸素の混合ガス雰囲気中で部分放電劣化させ、劣化生成ガスの生成量と劣化試料表面のカルボニル基の生成量を比較し、部分放電劣化に対する酸化防止剤の効果について検討した。GC?MSからはガスクロマトグラムが得られ、二酸化炭素を検出できる。FT?IRは劣化試料表面のカルボニル基を検出することができる。実験結果のまとめは次の二点になった。一点目はXLPEの部分放電劣化により二酸化炭素が発生し、電圧印加時間を長くすると二酸化炭素生成量が増加することが確認できた。二点目はフェノール系酸化防止剤を添加したXLPEは無添加XLPEよりも二酸化炭素の生成量が少なく、劣化面に生成される酸化生成物の量も少ないことが確認された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 916 Kバイト

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する