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電子線照射による絶縁材料中の導電率測定

電子線照射による絶縁材料中の導電率測定

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-079

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Measurement of Conductivity in Electron Beam Irradiated Dielectric Materials

著者名: 田原 麻衣(武蔵工業大学),党 巍(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),渡辺 力夫(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学)

著者名(英語): Mai Tahara(Musashi Institute of Technology),Dang Wei(Musashi Institute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Institute of Technology),Rikio Watanabe(Musashi Institute of Technology),Tatsuo Takada(Musashi Institute of Technology)

キーワード: PEA法|導電率測定|空間電荷|電子線照射

要約(日本語): 宇宙機の設計段階で絶縁材料の導電率などの電気的特性に関するパラメータを計測する必要があるが、高エネルギー電子線照射下のような特殊環境下における絶縁材料の電気的特性は、詳細には知られていない。そこで、本研究では電子線を照射した絶縁材料について、PEA法を用いた空間電荷分布と外部回路電流の同時測定を行い、導電率を算出することを研究目的としている。今回は、絶縁材料として低密度ポリエチレン(LDPE:Low-Density Polyethylene)を用いて導電率を試みた。その結果、対向電極側に負電荷が移動していることが確認でき、電子線が通過した領域の導電率が他に比べて大きいことが予想されるが、詳細な検討は今後行う予定である。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 808 Kバイト

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