宇宙機用絶縁材料内部における電荷蓄積挙動の観測
宇宙機用絶縁材料内部における電荷蓄積挙動の観測
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-080
グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集
発行日: 2007/03/15
タイトル(英語): Observation of Charge Accumulation Behavior in Dielectric Materials for Spacecraft
著者名: 丸田 真吾(武蔵工業大学),本城 正人(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),渡邉 力夫(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学)
著者名(英語): Shingo Maruta(Musashi Institute of Technology),Masato Honjoh(Musashi Institute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Institute of Technology),Rikio Watanabe(Musashi Institute of Technology),Tatsuo Takada(Musashi Institute of Technology)
キーワード: 宇宙機用絶縁材料|電子線照射|空間電荷測定|圧電素子誘起圧力波法
要約(日本語): 本研究では、宇宙機の絶縁材料で生じる内部帯電現象のメカニズムを解明するために、圧電素子誘起圧力波法(PIPWP法)を用いた内部帯電計測装置を開発し、真空チャンバーおよび電子線照射装置を用いて宇宙環境を模擬し、宇宙機用絶縁材料内部の空間電荷分布測定を行ってきた。今回は、宇宙機用絶縁材料として最も多く使用されているポリイミドフィルムに電子線を照射した場合の電荷蓄積挙動の観測を行った。その結果、電子線照射直後から試料内部に負電荷が蓄積し、その後照射中にもかかわらず負電荷は減少した。これは、電子線の照射によって不可逆的な特性の変化が試料内に発生したためだと考えられる。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,198 Kバイト
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