Bi2212及びBi2223超電導厚膜のマイクロ波相互変調歪み特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-114

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Microwave intermodulation-distortion properties in Bi2212 and Bi2223 thick films

著者名: 原 知広 (豊橋技術科学大学),伊藤良幸 (豊橋技術科学大学),稲田亮史 (豊橋技術科学大学),中村雄一 (豊橋技術科学大学),太田昭男 (豊橋技術科学大学)

キーワード: 超電導|マイクロ波|相互変調歪（IMD）|表面抵抗Rs

要約(日本語): 近年の移動体通信機器の急速な普及により、周波数資源の有効利用のため、高温超電導体を用いたマイクロ波フィルタの開発が強く望まれている。一方、超電導体には、複数のマイクロ波信号が入力された際に、ノイズの主因となる3次相互変調歪(IMD)が発生する問題がある。本研究では、低温において、Bi2223厚膜と比べ、高い通電特性を持つBi2212厚膜を電極とするTE011誘電体共振器のIMD電力を測定した。20KにおけるBi2212厚膜の表面抵抗Rsは1mW程度とBi2223厚膜の値（0.5mW）と比較して2倍程度の大きさであったが、20Kにおいて測定したIMD信号はBi2212厚膜の方が著しく低い値を示した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 862 Kバイト