パルス過流探傷によるフーリエ解析手法の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-153

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Fourier analysis technique for pulsed eddy current NDE system

著者名: 紀和 利彦(岡山大学),河田 知明(岡山大学),山田 博信(岡山大学),塚田 啓二(岡山大学)

著者名(英語): Toshihiko Kiwa(Okayama University),Tomoaki Kawata(Okayama University),Hironobu Yamada(Okayama University),Keiji Tsukada(Okayama University)

キーワード: 非破壊検査|過流探傷|パルス磁場|フーリエ解析

要約(日本語): 過流探傷法は，磁場印加により測定対象に流れる渦電流の分布を時期的に検出することで，測定対象の欠陥を探知する非破壊検査法である．過流探傷法は，他の非破壊検査法に比べて，比較的深部の欠陥を，簡単な装置で評価できる点などから，広く開発が進められている．本研究では，パルス磁場を印加し，測定対象より得られた信号にフーリエ解析手法を適用することで，試料の欠陥深さ情報を容易に得る方法を提案した．その結果として，実際にアルミ板に作製した表面から深さ1mm に存在する二つの欠陥を分離検出が可能であることを示した．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 908 Kバイト