パワーエレクトロニクス制御用ICのノイズ印加耐量試験

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-008

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Experimental Study on a Noise Resistivity of the ASIC for Power Electronics Application

著者名: 服部 達哉(東京都立大学),和田 圭二(東京都立大学),清水 敏久(東京都立大学)

著者名(英語): Tatsuya Hattori(Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada(Tokyo Metropolitan University),Toshihisa Shimizu(Tokyo Metropolitan University)

キーワード: ASIC|サージ耐量

要約(日本語): 近年，DSPやFPGAやマイコン等のICによるパワーエレクトロニクス制御信号のディジタル化が一般化している。しかし，パワーデバイスのスイッチングの高速化に伴い，制御ICに加わる過電圧ノイズが増加し，ICの動作信頼性に深刻な影響を及ぼしている。本稿では，パワーエレクトロニクス用途のASICを高信頼化することを目的として，過電圧ノイズを擬似的に生成し，ASICに直接印加し，ASICのノイズ耐量試験を行ったので，その結果を報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 757 Kバイト