MT法による配線用遮断器の絶縁劣化診断

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-209

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Deterioration Diagnosis of Insulators for Moulded Case Circuit Breakers Using the MT Method

著者名: 三木 伸介(三菱電機),梅村 園子(三菱電機),伏見 征浩(三菱電機),山崎 悟(三菱電機)

著者名(英語): Shinsuke Miki(Mitsubishi Electric Corporation),Sonoko Umemura(Mitsubishi Electric Corporation),Masahiro Fushimi(Mitsubishi Electric Corporation),Satoru Yamasaki(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: 絶縁物|劣化診断|配線用遮断器|MT法|化学的評価

要約(日本語): 電気機器の信頼性を支配する絶縁物の劣化度を精度よく診断する技術が望まれている。これまで電気的診断法が主に研究されてきたが，湿度等の影響が大きいため信頼性は十分と言えないのが現状である。著者らは6.6KV等の高圧絶縁物を対象に絶縁物の化学的評価結果を品質工学の1手法であるマハラノビス・タグチ（MT）法で解析し，表面劣化を精度良く広範囲にわたり診断する方法を開発してきた。今回は，配線用遮断器絶縁物への適用可能性について検討を行った。化学的評価結果をMT法で解析して求めたマハラノビスの距離と表面抵抗率は良好な相関を示すことから，配線用遮断器絶縁物への診断技術の適用が可能であることを検証できた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 741 Kバイト