数値シミュレーションによるNb3Sn素線の曲げ歪印加時における超電導特性の評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-020

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Numerical Simulation of Critical Characteristics in Nb₃Sn strand Subjected to Bending Strain

著者名: 村上 陽之(早稲田大学),植田 浩史(早稲田大学),我妻 洸(早稲田大学),石山 敦士(早稲田大学),小泉 徳潔(日本原子力研究開発機構),奥野 清(日本原子力研究開発機構)

著者名(英語): Haruyuki Murakami(Waseda University),Hiroshi Ueda(Waseda University),Koh Agatsuma(Waseda University),Atsushi Ishiyama(Waseda University),Norikiyo Koizumi(Japan Atomic Energy Agency),Kiyoshi Okuno(Japan Atomic Energy Agency)

キーワード: CIC導体|臨界電流|曲げ歪|劣化|Nb3Sn

要約(日本語): Nb₃Sn/CIC導体のITER用コイルへの適用性を実証するため、モデル・コイルが製作され、性能試験が行われた。試験の結果、導体の臨界電流値は素線性能から予測される臨界電流値に比べて低くなった。この原因として、局所的な素線の曲げ変形が考えられている。そこで、Nb₃Sn線の曲げ変形に対する臨界電流特性を調べるため、分布定数回路を用いた数値解析コードを開発し、臨界電流値やn値の劣化に対する温度,撚りピッチ,素線材料の構成比などの影響を評価した。その結果、CIC導体内での素線の撚りピッチを短くすることや、素線の曲げ剛性を高めることで劣化を抑えることが出来るという結果を得たので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 951 Kバイト