雷サージによる電子機器誤動作要因の解明検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-104

グループ名: 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集

発行日: 2007/03/15

タイトル(英語): Experimental Study on the malfunction of the electronic devices due to lightning surges

著者名: 細川 武(元,日本電子材料工業会),堤内雄大 (九州大学),横山 茂(電力中央研究所),副田 正裕(九州電力),生田 昌輝(電力中央研究所),大槻 和司(電力中央研究所)

著者名(英語): Takeshi,Hosokawa|Yuday,Tutsmiuchi|Shigeru,Yokoyama|Masahiro,Soeda|Masateru,Ikuta|Kazushi,0tuki

キーワード: 雷|雷被害|雷保護|雷防護素子|電子回路

要約(日本語): 近年，各種電気機器はCPU(コンピュータ)によって制御されている。これら機器は低電圧でしかも微弱なエネルギーで駆動できることから低レベルの雷サージに敏感に反応し，フリーズなどの誤動作が生じている。ここでは雷サージによる誤動作要因の解明を目的として雷保護用バリスタや放電管に侵入する雷電流に着目し，機器内部に侵入した雷電流による電子回路への影響についてFax付電話機を用いて実験的に検討した結果（CPUが機器内部を通過する雷電流や放電に伴う誘導電圧の影響を受け，一定レベルを超えるとフリーズ現象が発生。誘導電圧は離隔距離，波頭峻度，放電など影響を受ける。これらは誤動作対策で貴重な指標。）の報告。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,850 Kバイト